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Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機
- 產品型號：iKon-M SY
- 更新時間：2025-10-17
- 產品介紹：Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。
- 在線留言 18862177052
Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動態范圍和快速探測的CCD、sCMOS和EMCCD相機，為小型實驗室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運用在不同研究領域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領域。
Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機特性：
TE冷卻至-100°C
95%的峰值QE高探測器靈敏度
標準配置為“獨立"鈹窗，厚度為200微米的鈹箔窗
13 x 13um像素大小動態范圍和分辨率最佳平衡
超低噪聲讀出智能低噪聲電子設備提供最“安靜"的系統噪聲性能
產品規格 | iKon-M SY |
芯片類型 | 背照CCD |
快門 | 全局快門 |
數據接口 | USB 2.0 |
分辨率 | 1024 x 1024 |
彩色/黑白 | 黑白 |
幀率 | 4.4 |